El Prof. Dr. Jorge Esteban Rodas Benítez, Docente Investigador adscripto al Departamento de Ingeniería Electrónica y Mecatrónica (DIEM) y Director de Investigación de la Facultad de Ingeniería de la Universidad Nacional de Asunción (FIUNA) tuvo a su cargo la presentación de un artículo científico en la conferencia internacional denominada IEEE CONFERENCE ON POWER ELECTRONICS AND RENEWABLE ENERGY 2023 (CPERE). La conferencia fue llevada a cabo entre 19 y 21 de febrero del presente año en la ciudad de Luxor, Egipto y fue organizada por el Instituto de Ingeniería Eléctrica y Electrónica (IEEE, por sus siglas en inglés). La IEEE CPERE logró reunir a académicos, estudiantes, investigadores e ingenieros provenientes de diversas partes del mundo.
El artículo científico presentado lleva el título “Weighting-Factorless Sequential Model Predictive Torque Control of a Six-Phase AC Machine”. En el mismo se propone un esquema de control predictivo de par aplicado a un accionamiento de inducción de seis fases. El principal aporte radica en la eliminación del uso del factor de peso utilizado habitualmente en el control predictivo, obteniéndose así un esquema simplificado y a su vez de altas prestaciones. El artículo contó con la coautoría de los siguientes docentes investigadores:
- Dr. Jorge Esteban Rodas Benítez, Docente Investigador del DIEM (FIUNA).
- Dr. Osvaldo González, Docente Investigador del DIEM (FIUNA).
- Dra. Margarita Norambuena, Universidad Federico Santa María (Chile).
- Dr. Jesús Doval-Gandoy, Universidad de Vigo (España).
- Dr. Oriol Gomis-Bellmunt, Universidad Politécnica de Cataluña (España).
- Dr. Raúl Gregor, Director del DIEM (FIUNA).
- Dr. Magno Ayala, Docente Investigador del DIEM (FIUNA).
- Dr. José Rodríguez, Rector de la Universidad San Sebastián (Chile).
- Carlos Romero, Docente Investigador del Departamento de Ingeniería Mecánica y Electromecánica (FIUNA).
Cabe destacar que todos los artículos presentados en la IEEE-CPERE han pasado por una rigurosa revisión por pares, y serán publicados en la base de datos de la IEEE.
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